Materialtekniska analysmetoder

Mål

Målet är att studenten skall ha förvärvat såväl en fördjupad kunskap om principerna för moderna fysikaliska mätmetoder som praktiska erfarenheter av analysinstrument av den typen som används inom dagens avancerade materialforskning. Detta innebär att studenten skall:

• Förstå principerna bakom växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner.
• Erhålla grundläggande kunskaper om diffraktion och kontrastteori.
• Förvärva praktisk färdighet genom att arbeta med analysinstrumenten, endera själv eller i grupp med andra.
• Förstå hur de olika analysmetoderna kompletterar varandra vid grundläggande materialanalys.
• Öva rapportskrivning genom att i grupper om två sammanställa de resultat som erhållits via de olika analysteknikerna
• Kunna dra slutsatser om de olika teknikernas tillämpbarhet vid grundläggande analys av olika material.

Innehåll

Föreläsningarna avhandlar dels de fysikaliska principerna för växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner, dels de grundläggande principerna för diffraktion och kontrastteori. Vidare studeras principerna och användningen av mikroprober, elektronspektroskopiteknikerna (AES och XPS), röntgendiffraktion, elektronmikroskopi (SEM och TEM), ljusoptisk mikroskopi, och ellipsometri. Laborationer i ljusoptiskt mikroskop, metallmikroskop. Transmissionselektronmikroskopi, kontrast, provberedningsteknik. Elektrondiffraktion, fasidentifiering. Svepelektronmikroskopi. Mikrosondanalys för kemisk sammansättningsbestämning. Röntgenfotoelektronspektroskopi, XPS. Augerelektronspektroskopi, AES. Ellipsometri. Röntgendiffraktion.